Van Goghetik Picassora. Thannhauser legatua

katalogoa

Analisi-teknikak

Federica Pozzi

Kontserbatzaileek irudiak eskuratzeko teknikak erabili ohi dituzte eta elkarlanean aritzen dira kontserbazioaren alorreko zientzialariekin, zehaztasun handiagoz analizatu ahal izateko artelanen bilakaera, osagaiak edota egitura. Ale honetan lantzen diren Thannhauser Bildumako zenbait obraren azterketa osatzeko xedeaz, irudiak eskuratzeko eta analizatzeko teknika hauek baliatu izan dira, unean unekoa hautatuz; siglen bitartez aipatuta ageri dira teknika horiek saiakera-lanen eta sarreren oharretan, eta hemen xehetasun handiagoz azalduko dira.

Zeharkako ebaketa bat artelan batetik hartutako lagin mikroskropiko bat da, erretxina gardenaren gainean muntatua, bere estratigrafia agerrarazteko. Erretxinazko blokea, gogortu ondoren, esmerilatu eta leundu egiten da, lagina osatzen duten geruza guztiak plano berean geratzen diren arte. Zeharkako ebaketak mikroskopio optikoan beha eta dokumenta daitezke, islaturiko argipean eta fluoreszentzia ultramorearen modalitateen arabera; era berean, teknika instrumentalen bitartez ere analiza daitezke, nola diren FTIR eta Raman espektroskopia, eta mikroskopio eskaneatzaile elektronikoa/energia sakabanatzeko espektroskopia, SEM-EDS (Scanning Electron Microscopy with Energy Dispersive Spectroscopy).

Zuntz optiko bidezko erreflektantzia-espektroskopia (FORS–Fiber optics reflectance spectroscopy): maila molekularreko informazioa eskaintzen du artistek erabilitako materialez, besteak beste pigmentuez eta, gutxiago bada ere, aglutinatzaileez. Metodo honek pintura-eremu txiki batek islatzen duen argi-kopurua neurtzen du, objektuari erasotzen dion argi-kopuruari dagokionez. Ratio horrek kodetua darama molekulen barneko trantsizio elektronikoei eta bibrazionalei buruzko informazioa, eta informazio hori materiala identifikatzeko erabil daiteke.

Fourier infragorrizko espektroskopia eraldatua (FTIR– Fourier transform infrared spectroscopy): izpi infragorrizko erradiazioak erabiltzen ditu material-motak lotura kimikoen aldaketa bibrazionalen arabera bereizteko eta identifikatzeko. Maiztasun bibrazional jakinen goraldiak antzemanez, eta FTIR espektro batean haien intentsitate erlatiboak aztertuta, analizaturiko molekuletan multzo funtzional jakin batzuk daudela egiazta daiteke, eta multzo horietatik abiatuta, laginak igorritako edo islaturiko argi-modalitateetan aztertuz, gai-sorta zabal bat identifika daiteke: hala bernizak, betegarriak eta aglutinatzaile organikoak, baita pigmentu mineral inorganikoak eta pigmentu organiko sintetikoak ere.

Gasen kromatografia-masen espektrometria (GC/MS– Gas chromatography-mass spectrometry): teknika honekin, nahasketa konplexuak bereiz eta identifika daitezke haien osagai lurrunkorren adsortzio eta desortzio selektiboen bitartez, zutabe fin baten barruan jasotako fase geldikor batean. Laginak gas geldo baten bitartez garraiatzen dira zutabean zehar detektagailu bateraino, eta atxikipen-denboraren eta masen espektroaren bitartez identifikatzen dira banakako osagaiak. Pirolisian —(Py)-GC-MS—, laginak tenperatura altuan berotzen dira, normalean 600–800°C gradutan; haien osagai molekularrak hautsi egiten dira, eta zati txikiagoak eta lurrunkorragoak sortzen dituzte. Analisiaren aurretik, lagin bati zenbait erreakzionatzaile erants dakizkioke, osagai polarren lurrunkortasuna areagotzen dutenak, ingelesez derivatization edo deribatizazioa esaten zaion prozesu baten bitartez. Proteinak dauzkaten aglutinatzaileak, olioak, argizariak, eta erretxina naturalak, nahiz polimero sintetikoak, hala akrilikoak nola alkidikoak, eta berniz sintetikoak xeheki identifikatu ahal izateko baliatzen dira GC-MS teknikak.

Errendimendu handiko kromatografia likidoa (HPLC– High-performance liquid chromatography): teknika honen bidez, masa konplexuak bereiz eta ezaugarritu daitezke, presio altuan dagoen zutabe batean barna garraiatuz, fase mugikor likido bat erabilita. Sisteman injektatzen dira, eta ondoren laginak zutabean ponpatzen dira, osagaietan bereizten dira fase geldikor batean adsortzio eta desortzio selektiboen bitartez, eta detektagailu batera eramaten dira. Fotodiodoen matrizea eta masen espektrometria dira maizenik baliatzen diren bi detektagailu-motak, haien bidez nahasketa baten osagaiak identifika baitaitezke, hurrenez hurren, atxikitze-denboraren eta espektro ultramore/ikusgaiaren edo masa-espektroaren arabera. HPLC teknikan erauzte-prozedurak aplikatu behar izaten dira analisiaren aurretik, eta oso baliagarria da GC-MS bidez ezin analiza daitezkeen gai konposatu ez-lurrunkorrak bereizteko eta ezaugarritzeko. Kulturaren alorrean, teknika hau asko baliatzen da tindagai organiko natural eta sintetikoak identifikatzeko.

Infragorrizko erreflektografia (IRR–Infrared reflectog­raphy): teknika honetan argi infragorrizko iturri bat, argi infragorriarekiko sentibera den detektagilu batez hornituriko kamera bat eta tresna digitalak erabiltzen dira, artelan bateko pintura-geruzetan “zehar” ikusi ahal izateko. Pigmentu eta aglutinatzaile asko guztiz edo partez gardenak dira IR erradiazioarekiko, eta karbonoa duten osagaiek, berriz, besteak beste ikatz-ziriak edo grafitoak, hein handi batean uhin-longitude hauek xurgatzen dituzte; hori dela eta, IRR bereziki erabilgarria gertatzen da pintura-geruzen azpian dauden prestakuntzazko marrazkiak ikusi ahal izateko, baita konposizio batean egindako aldaketak ikusteko ere. IRR bidez sorturiko irudiak infragorrizko erreflektografiak deitzen dira argia objektuaren gainazalean islatzen denean, eta infragorrizko transmitografiak argia objektuan barna igortzen denean.

Mikroskopia optikoa (MO–Optical microscopy): teknika honek lente-sistema bat erabiltzen du materialen ezaugarri fisikoak eta kimikoak bisualki ebaluatzeko, handipen handiz behaturik, lagin txiki-txiki baten gainean (mikra batzuk besterik ez), eta argiak duen eraginetik abiatuta. Laginak argi igorriaz edo argi islatuaz beha daitezke, argi ikusgaia edo argi ultramorea baliatuz; azken kasu horretan, material batzuen autofluoreszentziak aldez aurreko informazioa eskain dezake haien identifikaziorako.

Argi polarizatuko mikroskopia (PLM–Polarized light microscopy): mikroskopia optikoko teknika bat da, eta mikroskopio konposatua erabiltzen du, lagin bat argitzeko eta aztertzeko balio duten iragazki polarizatzailez hornitua. Teknika hau material sorta baten (besteak beste, pigmentuen, mineralen, zeramiken, zuntzen eta polimeroen) zenbait ezaugarri optiko zehazteko erabiltzen da: kolorea, forma, neurria, dentsitatea, gardentasuna/ opakutasuna, errefrakzio-indizea, etab..

Argi polarizatuko mikroskopia (PLM–Polarized light mi­croscopy): mikroskopia optikoko teknika bat da, eta mikroskopio konposatua erabiltzen du, lagin bat argitzeko eta aztertzeko balio duten iragazki polarizatzailez hornitua. Teknika hau material sorta baten (besteak beste, pigmentuen, mineralen, zeramiken, zuntzen eta polimeroen) zenbait ezaugarri optiko zehazteko erabiltzen da: kolorea, forma, neurria, dentsitatea, gardentasuna/opakutasuna, errefrakzio-indizea, etab.

Pirolisia eta gasen kromatografia/masen espektrometria teknikei dagokienez (Py-GC-MS–pyrolysis-gaschromatography/mass spectrometry), ikus gasen kromatografia/masen espektrometria deskribapena.

Raman espektroskopia: teknika honetan laserra ikusgai edo ia infragorria erabiltzen da molekula-bibrazioei buruzko informazioa eskuratzeko, eta informazio hori materialak identifikatzeko balia daiteke. Laser-argia mikroskopio batean barna eramaten da, laginari edo objektuari erasoarazten zaio, eta detektagailu batean jasotzen da ondoren substantzia analizatuarekiko elkarreraginaz islatzen den argi-zati txikia. Raman espektroskopia FTIRen osagarria da, eta teknika honen bidez ezaugarritu daitezke bai material inorganikoak, besteak beste pigmentu mineralak eta betegarriak, bai konposatu organikoak, nola diren pigmentu eta polimero organiko sintetikoak; alabaina, tindagai naturalen kasuan, haien fluoreszentziak eragotzi egiten du teknika honen erabilera. Tindagaiak egokiro analiza daitezke gainazal indartuko Raman espektroskopiaren bitartez (SERS–surface-enhanced Raman spectroscopy); Raman teknika bat da, sentikortasuna asko areagotzen duena, eta aldi berean arintzen duena xafla metaliko izurtsuetan adsorbituriko molekula organikoen fluoreszentzia, besteak beste zilarrezko koloideetan —hau da, zilar-nanopartikulen esekiduretan, zeinak eskuratzen baitira zilar-gatz baten (gehienetan zilar-nitratoa izaten da) murriztapen kimikoaren bitartez—.

Mikroskopio eskaneatzaile elektronikoa/X izpi bidezko energia sakabanatzeko espektroskopia, (SEM/EDS–Scanning Electron Microscopy/Energy Dispersive Spectroscopy): elektroi-sorta guztiz kontzentratu bat erabiltzen du, irudi bat eskuratu eta artelanetatik harturiko laginak edo objektu txikien gainazala analizatu ahal izateko. Mikroskopia optikoarekin alderaturik, mikroskopio eskaneatzaile elektronikoaren bitartez irudia gehiago handitu daiteke, eta orobat dira handiagoak erresoluzio espaziala eta eremu-sakontasuna. EDS bidezko analisiarekin konbinaturik, azterketa-eremuan dauden elementuen presentziari eta banaketari buruzko informazioa ematen du, materialak elektroi azeleratuekiko elkarreraginean igortzen dituen X izpi bereizgarriak analizatzean. SEM/EDS teknikaren bidez, era askotako material inorganikoen gainazal topografikoa eta elementu-konposizioa aztertu ohi da: mineralena, metalena, korrosioaren produktuenak, zuntz, beira eta zeramikarena, baita pigmentu eta zama-materialena ere, pinturaren zeharkako ebaketen estratigrafian.

Argi ultramorepeko analisia: teknika honetan, argi ultramorea ematen duen lanpara bat erabiltzen da objektu jakin bat argitzeko. Erradiazio ultramorearen eraginez, material batzuek fluoreszentzia ikusgaia igortzen dute, eta fluoreszentzia horren koloreak eta intentsitateak materialak ezaugarritzen edo bereizten lagun dezakete. Teknika honen bitartez jakin daiteke, besteak beste, zer eratan eta zenbateraino zahartu diren berniz naturalak eta sintetikoak; pigmentu-kategoria jakinak antzeman daitezke, laka gorri jakin batzuk besteak beste, eta orobat antzeman daitezke gaina-zaleko anomaliak; eta ikus daitezke, koadroa bukatu ondoren material modernoekin egindako ukituak, argi ultramorea xurgatzen baitute eta ilunagoak ikusten dira argi horretan.

X izpi bidezko erradiografia: artelana X izpien eraginpean jartzen da igorritako erradiazioaren zuri-beltzeko irudi bat eskuratzeko xedeaz, digitala nahiz pelikula sentikorreko xafla baten gainekoa. X izpiak ez dira denak materialean gradu berean sartzen, material horren pisu atomikoaren, loditasunaren eta dentsitatearen arabera baizik. X izpi bidezko erradiografiek konposizioaren eta kokagunearen aldaketak agerraraz ditzakete, baita zenbait kalteren —urratuen, zuloen, krakeladuren eta izurriteen— nolakotasuna eta zenbaterainokoa ere. Konponketa zaharrak ere agerraraz ditzakete, esate baterako inkrustazioak, adabakiak, mihise erantsiak eta betegarriak.

X izpien fluoreszentzia-espektroskopia (X-ray fluorescence (XRF) spectroscopy): kalterik egiten ez duen teknika bat da, eta materialen elementu-konposizioa zehazteko erabiltzen da. X izpien iturri batek igortzen duen sorta erasotzaile bat gidatzen da aztertu nahi den artelanaren eremura; sortak bere atomoekin eragiten du, eta atomoaren barneko geruzetatik elektroiak kanporatzen ditu; kanpoko geruzetako elektroiek leku hutsak hartzen dituzte, bertan dauden elementuen X izpi bereizgarrien igorpena eraginez, zeinak detektagailu batek erregistratzen baititu. XRF teknika bereziki baliagarria gertatzen da material inorganikoak identifikatzeko, besteak beste pigmentuak eta zama-materialak, baita objektu metalikoen aleazioen konposizioa identifikatzeko ere. Zer nolako analisia egin nahi den, eskuzko espektrometroak, espektrometro eramangarriak, mahai gainekoak edo X izpien fluoreszentziako eskaneatzaileak erabil daitezke.

[Itzulpena: Rosetta;
Egokitzapena: Guggenheim Bilbao Museoa]

 

PDF-a JAITSI